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產(chǎn)品展示/ Product display
diatest測量臺505-C2-JS用于內(nèi)部和外部測量,DIA-COME測量臺有不同的尺寸、設計和測量范圍。它通常直接在機器旁邊使用,例如樣品。
2024-01-08
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diatest剖分球探頭T-0.50用于孔徑測量,模塊化設計與廣泛的附件相結(jié)合,可以測量最常見的孔。這允許使用串行和單獨控制,以及優(yōu)先在工廠直接在生產(chǎn)機器上使用。
2024-01-08
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